具有增强光学切片能力的相干结构光照明显微术

相干结构光照明显微术（c-SIM）是一种用于亚衍射极限成像的合成孔径光学技术，将传统SIM的适用性扩展到非荧光样品。在此，我们提出了一种互补的五光束c-SIM实现方案，与传统的四极照明相比，该方案能够提供更强的光学切片能力。由于我们的方法基于相干光散射来检测强度图像，因此避免了与复场检测相关的复杂性。通过对校准样品和活体微藻的比较测量，我们表明，五光束c-SIM能够有效抑制相干离焦效应，在实现横向分辨率提升2倍的同时改善图像质量。

相干结构光照明显微术（c-SIM）是一种用于亚衍射极限成像的合成孔径光学技术，可将传统SIM的适用范围扩展至非荧光样品。在此，我们提出了一种互补的五光束c-SIM实现方式，与传统四极照明相比，其能够提供增强的光学切片能力。由于我们的方法基于相干光散射来检测强度图像，因此避免了与复场检测相关的复杂问题。通过在校准样品和活体微藻上的对比测量，我们表明五光束c-SIM能够有效抑制相干离焦效应，在实现横向分辨率提高2倍的同时，改善图像质量。

📄 原文链接：https://www.biorxiv.org/content/10.64898/2026.06.11.731428v1?rss=1

🏷️ 相干结构光照明显微术 光学切片 合成孔径成像 非荧光样品成像 活体微藻成像